• +7 917 457 30 00
  • г. Уфа, ул. Огарёва, 2 к.5
  • skp-rf@mail.ru
Поставка оборудования и материалов для неразрушающего контроля
+7 (347) 286-23-75

В будние дни с 9:00 по 18:00

Ультразвуковой дефектоскоп УД 2-12 6 ПЭП

Цена по запросу
Описание

Дефектоскоп ультразвуковой УД2-12 предназначенный для контроля продукции на наличие дефектов (обнаружение дефектов) типа нарушения сплошности и однородности материалов, полуфабрикатов, готовых изделий и сварных соединений, для измерения глубины и координат их залегания, измерения отношений амплитуд сигналов от дефектов.

 

Технические возможности дефектоскопа УД2-12:

 

  • Дефектоскоп обеспечивает контроль материалов со скоростями распространения продольных ультразвуковых колебаний (УЗК) в диапазоне от 2240 до 6700 м/с и затуханием продольных УЗК не более 3,9 дБ/см.
  • Диапазон толщин контролируемого материала (по стали):
    - от 1 до 999 мм по цифровому индикатору;
    - от 1 до 5000 мм по экрану ЭЛТ.
  • В зависимости от области применения дефектоскоп комплектуется:
    - контактными прямыми совмещенными и раздельно-совмещенными, наклонными совмещенными и раздельно-совмещенными преобразователями с номинальными частотами 0,62; 1,25; 1,8; 2,5; 5,0 MHz.
    - блоком автономного питания, зарядным устройством для зарядки аккумуляторов автономного блока питания.
    - раздельными трансформаторами для питания электронного блока от сети переменного тока с номинальным напряжением 24 V, 36 V, 220 V.

 

Особенности дефектоскопа УД2-12:

 

  • индикация зоны и формы напряжения временной регулировки чувствительности (ВРЧ) на экране электронно-лучевой трубки;
  • индикация изменения амплитуды сигнала в децибелах на цифровом табло;
  • подключение внешних устройств для регистрации аналогового сигнала;
  • регулировка амплитуды сигнала генератора с сохранением спектра;
  • настройка импульсной части дефектоскопа по встроенному цифровому индикатору;
  • компенсированная отсечка шумов с сохранением информации, содержащейся ниже уровня отсечки;
  • измерение координат и глубины залегания дефектов без нормирования амплитуды сигналов